| 測(cè)試日期：2008-4-8
芯片名稱(chēng)：TP4056
測(cè)試板：本公司TP4056演示板
測(cè)試環(huán)境：溫度20℃
測(cè)試目的：檢測(cè)芯片在涓流轉(zhuǎn)恒流及極限熱耗散情況下（高溫工作）的可靠性
測(cè)試條件：
電源電壓：7.0V
充電設(shè)置電流：1.2A
充電電池起始充電電壓：2.5V
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芯片編號(hào)
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涓流轉(zhuǎn)恒流功能
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大電流充電電流
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充電時(shí)間
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是否合格
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1號(hào)片
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正常
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320mA
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30分鐘
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合格
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2號(hào)片
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正常
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306mA
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30分鐘
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合格
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3號(hào)片
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正常
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310mA
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30分鐘
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合格
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4號(hào)片
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正常
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314mA
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30分鐘
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合格
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5號(hào)片
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正常
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317mA
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30分鐘
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合格
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6號(hào)片
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正常
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311mA
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30分鐘
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合格
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7號(hào)片
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正常
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325mA
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30分鐘
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合格
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8號(hào)片
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正常
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312mA
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30分鐘
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合格
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9號(hào)片
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正常
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309mA
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30分鐘
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合格
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10號(hào)片
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正常
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301mA
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30分鐘
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合格
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測(cè)試結(jié)果說(shuō)明：TP4056經(jīng)過(guò)涓流，恒流，恒壓三個(gè)充電階段， 芯片在2.9V左右進(jìn)入恒流狀態(tài)。
恒流設(shè)置為1.2A，由于電源電壓設(shè)置7V，芯片受熱影響自適應(yīng)而減小充電電流。（減小電源電壓至5V左右則可得到大充電電流）
可計(jì)算芯片上實(shí)際功率為芯片通過(guò)的電流×芯片電源端與電池端的壓差約為3V即300mA×3V=0.9W 。約為此封裝的熱耗散功率。
測(cè)試項(xiàng)目：設(shè)置1A完整充電情況
測(cè)試條件：電源電壓5V. 電池容量2400mA
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電池電壓
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充電電流
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電池電壓
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充電電流
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電池電壓
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充電電流
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電池電壓
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充電電流
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2.0V
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120mA
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3.2V
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915 mA
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3.9V
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1024 mA
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4.125V
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573 mA
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2.2V
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120 mA
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3.5V
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973 mA
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4.0V
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1000 mA
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4.15V
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410 mA
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2.5V
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120 mA
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3.6V
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978 mA
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4.05V
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940 mA
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4.17V
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245 mA
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2.7V
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120 mA
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3.7V
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1053 mA
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4.075V
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910 mA
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4.18V
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165 mA
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2.9V
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924 mA
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3.8V
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1078 mA
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4.1V
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725 mA
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4.185V
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117 mA
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測(cè)試結(jié)果說(shuō)明：完整的充電電流控制。涓流、恒流、恒壓各段充電電流正常。可以輸出超過(guò)1A的大電流。
測(cè)試項(xiàng)目：1.2A恒流2小時(shí)測(cè)試
測(cè)試條件：電源電壓5V。
測(cè)試結(jié)果：
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編號(hào)
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恒流電流
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時(shí)間
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可靠性
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1號(hào)片
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1.205A
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2小時(shí)
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合格
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2號(hào)片
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1.211A
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2小時(shí)
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合格
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3號(hào)片,
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1.206A
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2小時(shí)
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合格
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4號(hào)片
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1.208A
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2小時(shí)
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合格
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如客戶在測(cè)試中芯片充電電流過(guò)小，請(qǐng)注意以下幾點(diǎn)：
一， 大電流測(cè)試中電池電壓不應(yīng)超過(guò)4.05V,當(dāng)電池電壓高于4.05V左右后，電流將逐漸減小，進(jìn)入恒壓充電階段。
二， 在測(cè)試中，若需要監(jiān)測(cè)充電電流，請(qǐng)將電流表串聯(lián)在電源端。不可串聯(lián)在電池端。電流表內(nèi)阻對(duì)測(cè)試有干擾。
三， 我司測(cè)試中電源電壓為5.028V，即電路板紅線連接至電源的電壓。若電源電壓為5.2V以上，則由于芯片功率耗散的影響而減小充電電流。
請(qǐng)注意監(jiān)測(cè)電源的實(shí)際電壓。
測(cè)試結(jié)論：涓流恒流轉(zhuǎn)換功能正常，芯片在極限熱耗散的高溫情況下工作正常。芯片熱限制自適應(yīng)減小電流功能正常。大電流持續(xù)工作可靠性良好。
在充電過(guò)程中，設(shè)置大電流充電。電源在5V-8V范圍開(kāi)關(guān)上電可靠性良好。 |
